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응용자료

반도체 및 환경시료 분석에 관련된 다양한 응용자료를 제공합니다.

퍼킨엘머 NexION 5000 ICP-MSMS 를 이용한 VPD 시료 분석
운영자 22-03-29 11:10 393 hit
퍼킨엘머의 NexION 5000 ICP-MSMS 장비를 이용한 VPD 법 (반도체 실리콘 웨이퍼의 표면불순물 분석을 위한 기본 분석법) 소개 입니다.

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